T005913　数字集成电路参数的测量

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[苏]Д．Ю．埃杜卡斯等编著。

张伦译。人民邮电出版社1988年3月版。

29．1万字。共8章。

论述数字集成电路(各类逻辑电路、存储器、微处理器等)测量的各个方面。其中包括：静态参数、动态参数、功能参数的测量方法和测试所需的设备，测试的算法生成，测试的程序保证，以及大规模集成电路测试仪的构成和工作特点等。在叙述每一专题时，大都附有实例。