测量微小长度的光学方法

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对任一楔形薄层，当其折射角α不变而只增减板的厚度时，等厚干涉条纹并不改变其条纹间的距离，而只发生条纹的移动。

当厚度增加λ／2n时(n为楔形薄层的折射率)，第k级干涉条纹将位移到k－1级干涉条纹的位置上，第k+1条纹移到第k级条纹的位置，余类推，即此时整个干涉图样在薄层表面上向较薄的方向位移了一段由下式决定的距离：

同理，当楔形薄层的厚度减小λ／2n时，整个干涉图样将向楔形薄层的较厚的方向移动同样一个距离。于是通过测量干涉条纹位移，即可算出楔形厚度的微小的改变。