T006198　数据域测试技术及仪器

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杨吉祥编。

科学出版社1990年11月版。44．9万字。介绍和论述数字系统(包括LSI／MSI／SSI电路、印制电路板及计算机等)的测试理论、测试设备及测试系统，反映国内外该领域科研、生产的最新发展状况。

共8章，主要内容包括：数字系统测试的特点，发展概况及专业术语等；组合电路和时序电路的测试理论；随机测试和穷举测试技术，重点是近几年提出的用于VLSI电路测试的各种伪穷举测试技术；LFSR理论，特征分析仪的组成，工作原理及其正确使用技术；数字电路的可测性设计和内在自测试设计技术；微处理器的各种测试方法及LSI测试系统的组成，原理；数字电路板的测试技术和测试系统；逻辑分析仪及微机开发系统。