T007531 数字系统的测试与容错
陈廷槐等编。 东南大学出版社1990年4月版。37．8万字。电子工业部“七五”规划统编教材。主要介绍容错计算领域中具有实用价值和发展前景的理论和技术。 分10章。第一章介绍测试与容错的基本知识；第二章介绍组合电路测试，包括跟踪敏化通路的测试生成方法，产生测试的代数方法，跟踪信号通路的测试生成方法，故障的精简，故障模拟，故障字典和测试响应的压缩；第三章介绍时序电路测试，包括同步时序电路和异步时序电路的测试生成法，自动机的识别法；第四章介绍部件测试，包括模块级的功能测试，重复逻辑阵列的测试，RAM和微处理器的功能测试；第五章介绍可测试性设计，包括可测试性分析，易测试设计方法和自测试；第六章介绍系统及诊断，包括PMC模型的一步系统诊断，系统诊断的发展和应用；第七章介绍差错控制码，包括奇偶校验码、循环码、算术码等；第八章介绍容错技术，包括故障检测和屏蔽技术，混合冗余技术；第九章介绍系统可靠性评价技术，包括组合模型、网络模型和马尔柯夫模型；第十章介绍容错系统设计，包括SIFT计算机设计，Intel432系统设计，Stratus系统设计等。 每章末均附有习题和参考文献。 |