分光光度测量

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测量天体某一波长处的单色辐射流的方法。

原则上讲，它也属于光度测量范畴。不过，由于它测量的波段范围很窄，故在对仪器的要求，测量与分析的方法等方面，又与后者有所不同。

按测量的波长范围，分光光度测量一般分为连续光谱测量和谱线测量两种。

所谓连续光谱，是指在天体光谱中消除掉发射线和吸收线影响的部分。

连续光谱测量的目的是为了求得天体光谱能量分布曲线或色温度，并由之推得天体的表面温度和重力。研究天体连续光谱，是揭示天体性质的重要方法之一。一般用测微密度计进行。

谱线测量(即对线光谱的测量)可用照相方法和光电方法。

这种测量要求高色散度、高分辨率的光谱仪，特别是测量谱线轮廓必须要求精度高达0．1－0．05埃。分辨率低的分光仪，只能测得等值宽度(参见《谱线轮廓》)。