泰曼干涉仪taiman gansheyi

一种分振幅双光束干涉仪。1916年，泰曼和格林建议对迈克耳孙干涉仪作改进，以便用来检验光学元件的质量。1918年，制成了用来检验棱镜的干涉仪；1921年，制成了用来检验透镜的干涉仪。检验棱镜质量的泰曼干涉仪如图所示。点光源S位于准直透镜L₁的前焦点，从L₁出射平行光，被分光板D分成互相垂直的反射光和透射光。反射光被平面镜M₁反射，再从D透射到达物镜L₂；而透射光通过待测棱镜P，棱镜处于最小偏向角的位置，透射光被M₂反射，按原路通过P，再被D反射，也射向L₂。若待测棱镜质量好，两束光产生干涉，在L₂的后焦面上呈现均匀亮度；否则将出现干涉条纹。如果让干涉条纹定域于棱镜的一个表面，观察者还可描绘出棱镜缺陷的位置，从而指导进一步如何加工。用泰曼干涉仪还可检测平行平板的质量，制备固体激光器的谐振腔，用来精密测量红宝石棒或钕玻璃棒两端面的平行度。若把M₂换成球面镜，P换成待测透镜，让透镜的焦点和面镜的焦点重合，并且使从D出射的透射光垂直入射，用同样的方法就可以检验透镜的质量。