元器件早期失效率

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指对电子工业产品在开始试制生产的最初阶段所进行的失效检验统计。

用百分数表示。其计算公式为：

早期失效率是指出现在产品规定的时间的早期。产品失效的规律是随著失效率时间的发展，可划分为三个阶段：即早期失效期、偶然失效期和耗损失效期(见图)。在早期失效期，其特点是产品失效率较高，且随著时间的增长而迅速下降，这种失效大都是由产品的设计和工艺缺陷造成的。

在偶然失效期内，产品的失效率近似一个常数。在耗损失效期，由于产品已进入使用的后期，其老化和磨损程度愈来愈严重，故在这一期间，产品的失效率随著时间的增长而迅速上升。