干涉仪根据光的干涉原理制成的一种精密光学仪器。它能产生干涉条纹，可用于精密测量长度和检测平面光洁度等。有各种型式的干涉仪，主要有迈克尔逊干涉仪、法布里—珀罗干涉仪、折射干涉仪、天体干涉仪和显微干涉仪等。 干涉仪根据光的干涉原理制成，将来自一个光源的光线剖分成两束以上，各自经过不同的光程，然后合并显示出干涉条纹的仪器。主要有： (1)迈克干涉仪：多用于长度的精密测量、长度称准具的校正以及光谱学的上精密量度工作（精密度达到数百分之一微米）。(2)法布里—珀罗干涉仪：因法国物理学家法布里(1867～1945)和法国物理学家珀罗(1863～1925)而得名，大多用来研究谱线的精细结构和波长的精确测定。(3)折射干涉仪：用来测定气体的折射率和气体或液体折射率的微量变化，因而可以测量气体和液体中的杂质浓度以及气体的密度等。(4)天体干涉仪：天文学上用来测定天体的大小。(5)显微干涉仪：工业上用来测定机件磨光面的光洁度。 干涉仪interferometer
干涉仪interferometer |