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杨士元编著。
清华大学出版社1989年11月版。50万字。讲述数字系统的故障诊断、可测性设计与可靠性设计的基本概念和主要方法。对组合逻辑电路和时序电路的主要测试方法和D算法、M0M1算法、H算法等,并行、演绎、并发性故障仿真,PLA的故障检测与可测性设计,故障容错技术、编码检错技术、软件容错技术、自动测试设计和事故安全设计等可靠性设计方面的内容作了论述。
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