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紧密分布、部分重叠的分子光谱的谱带一端突起很高又急陡下降到零的峰值。在15N的光谱分析中，就是根据N的同位素分子光谱谱带头的相对强度进行测定。记录下来的谱带头高度正比于光强度，即比例于同位素分子的丰度，由此可以测得示踪样品的15N丰度。
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