扫描电子显微镜一种观察物质形态的光学仪器。具有放大倍率高、分辨率高、景深大、对样品无损坏的特点。可清楚地分辩微小痕迹和物体表面的形貌特征。配合X射线能谱或波谱方法可对物质成分进行定性定量分析。分析灵敏度高、精度高、速度快，检测元素范围广泛。适用于导电样品的检测观察，对非导电样品，可镀一层导电膜后，观察其形貌。司法鉴定中，广泛应用于各种微量物证和微小痕迹的鉴定。 扫描电子显微镜scanning electron microscope,SEM用聚焦的电子束在镀以金属薄膜的样品上扫描，再把重金属散射的二次电子集中起来，放大成像的电子显微镜。它的成像过程与电视显像过程相似，其图像是按一定的时间、空间顺序逐点形成并在镜体外的显像管上显示。它的结构包括电子光学系统、真空系统、图像信号检测器、图像显示与记录系统、电源系统及其他附属部件。广泛用于观察各种固态物质的表面超微结构和组成，利用冷冻断裂方法制样，也可观察物体内部结构。 扫描电子显微镜scanning electron microscope,SEM是70年代以来观察细胞表面微结构的工具。其装置原理与电视机相似，其中由电子源发射电子，经透镜聚焦，至标本上扫描。所撞击标本产生的二级电子，再通过电视管形成电子束在荧光屏上同步成象。由于景深较大，显出立体结构。 |