T007536　数据域测试及仪器

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张世箕等著。

电子工业出版社1990年7月版。51．5万字。

首先阐明数据域测试中的一些基本概念，在结构性的电路敏化分析的基础上，著重阐述D算法、扩张D算法、布尔差分法和等效范式法等组合逻辑电路中常使用的测试方法，介绍有关时滞测试问题。在微机测试中，重点阐述存储器的测试和微处理器的测试以及数据域测试的计算机辅助实现问题，提出了数字系统以及超大规模集成电路设计中必须考虑的可测试性设计问题，阐述了可测性测度的概念、定义和计算方法。

在数据域测试仪器中，讲述了节点测试器、总线分析仪和开发系统3大类仪器的工作原理和应用。系统全面的介绍了数据域测试的有关理论、方法和测试仪器。