T005956　超大规模集成电路设计Ⅱ——逻辑与测试

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[日]树下行三等著。

裴武焕译。科学出版社1991年12月版。

23．9万字。

“微电子学讲座”的第四卷。

重点阐述超大规模集成电路的计算机辅助设计(CAD)中有关逻辑设计及测试的内容。在超大规模集成电子设备中，逻辑设计及测试的CAD比第三卷中所介绍的电路、版图设计的CAD内容新，而且即将走向实用。

本书即介绍这一领域的现状和发展方向。书中前两章为逻辑设计的算法篇，介绍布尔代数及系统设计的新方法。

中间两章介绍逻辑模拟和描述语言，后两章介绍测试的基本概念及常用测试码的生成方法，并从测试的难度出发，阐述一些容易进行测试的设计方法。