| 字词 | T005841 半导体器件失效分析 |
| 类别 | 中英文字词句释义及详细解析 |
| 释义 | T005841 半导体器件失效分析 邓永孝著。 宇航出版社1991年4月版。27．6万字。 从失效分析工作和可靠性工程的需要出发，系统地介绍半导体器件失效分析的内容，除重点介绍失效机理和失效分析方法外，增加了实用性较强的使用可靠性内容和失效分析实例。 |
| 随便看 |
|
文网收录3541549条中英文词条，其功能与新华字典、现代汉语词典、牛津高阶英汉词典等各类中英文词典类似，基本涵盖了全部常用中英文字词句的读音、释义及用法，是语言学习和写作的有利工具。