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邓永孝著。
宇航出版社1991年4月版。27．6万字。
从失效分析工作和可靠性工程的需要出发，系统地介绍半导体器件失效分析的内容，除重点介绍失效机理和失效分析方法外，增加了实用性较强的使用可靠性内容和失效分析实例。
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