T005654 高空间分辨分析电子显微学
朱静等编著。 科学出版社1987年8月版。29万字。主要介绍高空间分辨分析电子显微术的基本理论，包括一般透射和扫描透射成像技术，高分辨结构像及晶格像，电子能量损失谱及X射线能量谱，会聚束及μ衍射，表面电子显微术等。 在组成分析方面，X射线能谱空间分辨率已达几十埃。 在结构分析方面，书中全面论述会聚束电子衍射，介绍其在晶体结构方面的应用。此外，书中还介绍了表面电子显微术，其优点是可以直接观察表面的一维结构、原子级的台阶等，并能记录其动态变化过程。 收入“材料科学及测试技术丛书”。 |